【受賞情報】高橋幸生研究室所属の佐々木さん(D3)、大川さん(D2)が日本顕微鏡学会第82回学術講演会で優秀口頭発表賞を受賞お知らせ
2026.6.25
2026年5⽉25⽇（月）～27⽇（水）に仙台国際センターで開催された「日本顕微鏡学会第82回学術講演会」において、可視化情報計測スマートラボ（高橋幸生研究室）の佐々木雄平さん(D3)、大川成さんが「優秀口頭発表賞」を受賞しました。
■佐々木雄平さん
＜関連リンク＞【受賞題目】「テンダーX線スペクトロタイコグラフィ計測システムの開発とミクロン厚高分子の3次元硫黄化学状態イメージング」
■大川成さん
【受賞題目】「テンダーX線タイコグラフィ-CT法によるCMOSイメージセンサー画素構造の高分解能三次元イメージング」
【受賞題目】「テンダーX線タイコグラフィ-CT法によるCMOSイメージセンサー画素構造の高分解能三次元イメージング」
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